■ 柵極電壓VGS:0 - ±40V
■ 漏極電壓VDS:0 - ±3000V
■ 四寄生參數(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一鍵測量及顯示
■ 一體化設計:LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機軟件
■ 單管器件(點測)、模組器件(列表掃描)、曲線掃描(選件)三種測試方式
■ 標配2通道,可擴展至6通道,可測單管、多芯或模組器件(TH513僅1通道)
■ CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描
■ 電容快速充電技術,實現快速測試
■ 接觸檢查Cont
■ 通斷測試OP_SH
■ 自動延時設置
■ Crss Plus功能:解決高頻下Crss負值問題
■ 高壓擊穿保護:DS瞬間短路,保護儀器
■ Interlock安全鎖功能:增加高壓防護墻(僅TH513)
■ Cs-V功能:二極管結電容CV特性測試分析
■ 等效模式轉換功能,可選Cs或Cp模式
■ 10檔分選
■ 柵極電壓VGS:0 - ±40V
■ 漏極電壓VDS:0 - ±200V
■ 四寄生參數(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一鍵測量及顯示
■ 一體化設計:LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機軟件
■ 單管器件(點測)、模組器件(列表掃描)、曲線掃描(選件)三種測試方式
■ 標配2通道,可擴展至6通道,可測單管、多芯或模組器件(TH513僅1通道)
■ CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描
■ 電容快速充電技術,實現快速測試
■ 接觸檢查Cont
■ 通斷測試OP_SH
■ 自動延時設置
■ Crss Plus功能:解決高頻下Crss負值問題
■ 高壓擊穿保護:DS瞬間短路,保護儀器
■ Interlock安全鎖功能:增加高壓防護墻(僅TH513)
■ Cs-V功能:二極管結電容CV特性測試分析
■ 等效模式轉換功能,可選Cs或Cp模式
■ 10檔分選
■ 柵極電壓VGS:0 - ±40V
■ 漏極電壓VDS:0 - ±1500V
■ 四寄生參數(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一鍵測量及顯示
■ 一體化設計:LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機軟件
■ 單管器件(點測)、模組器件(列表掃描)、曲線掃描(選件)三種測試方式
■ 標配2通道,可擴展至6通道,可測單管、多芯或模組器件(TH513僅1通道)
■ CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描
■ 電容快速充電技術,實現快速測試
■ 接觸檢查Cont
■ 通斷測試OP_SH
■ 自動延時設置
■ Crss Plus功能:解決高頻下Crss負值問題
■ 高壓擊穿保護:DS瞬間短路,保護儀器
■ Interlock安全鎖功能:增加高壓防護墻(僅TH513)
■ Cs-V功能:二極管結電容CV特性測試分析
■ 等效模式轉換功能,可選Cs或Cp模式
■ 10檔分選
■ 提供固定靜態偏置點進行窄脈沖動態IV測量,滿足準等溫測試條件
■ 實現器件寄生效應的量化測量與數據運算
■ 脈寬最小低至200ns
■ 具有內部和外部同步能力
■ 脈沖時序設置和時域波形記錄
■ 儀器設備可與socket&半自動探針臺互聯,進行封裝以及晶圓級芯片測試
■ 單通道和雙通道 N/P或組合器件測試 (MOSFET、IGBT以及二極管)
■ 可測試高達2500V雪崩電壓、200A峰值電流等級設備
■ 支持單脈沖雪崩測試(EAS)、重復雪崩能量測試(EAR)、 重復脈沖至失效測試(RPF)
■ 高速校準DAC可提升測試精度
■ 用戶可調節的電源電壓(10V至150V)穩定可靠
■ 漏極、源極接觸檢查電路可檢測20Ω以下的接觸電阻,提 供報錯提示(LED)
■ 可設柵極驅動電壓(最大電壓差:30V,最大電壓值:28V)適 應不同被測件所需
■ 可在雪崩前、雪崩后進行可調值的泄漏測試、以確定被測 件當前狀態
■ 高速固態開關、帶故障檢測功能
■ 高精度的電流和電壓波形捕捉以及雪崩持續時間捕捉
■ 7寸24位色TF LCD電容式觸摸屏,中英文可選操作界面, 用于單機操作、輸入測試規格以及提供測試數據顯示。
■ 提供指令用于用戶將屏幕信息存儲于U盤
■ 儀器有開機自檢和在線自檢功能、為用戶排查儀器內部故 障問題
■ 配備簡單自動校準程序,用戶可現場進行校準
■ 配備多種接口:用于遠程測試控制的GPIB接口、前后面板各配備一個的高速串行接口、支持高速傳輸數據的LAN 口。 LAN口不僅可用于遠程測試控制,在用戶需要觀測即時 測試波形時,可使用 LAN口搭配上位機程序查看每一一次 的波形數據
■ 可與TH530-01 可編程電感負載箱(0.01 至159.9mH)或外部電感器配合使用
■ 可外接示波器觸發器輸出,同步可視化雪崩測試過程,用 于準確測量雪崩時間
■ 單通道和雙通道 N/P或組合器件測試 (MOSFET、IGBT以及二極管)
■ 可測試高達2500V雪崩電壓、200A峰值電流等級設備
■ 支持單脈沖雪崩測試(EAS)、重復雪崩能量測試(EAR)、 重復脈沖至失效測試(RPF)
■ 高速校準DAC可提升測試精度
■ 用戶可調節的電源電壓(10V至150V)穩定可靠
■ 漏極、源極接觸檢查電路可檢測20Ω以下的接觸電阻,提 供報錯提示(LED)
■ 可設柵極驅動電壓(最大電壓差:30V,最大電壓值:28V)適 應不同被測件所需
■ 可在雪崩前、雪崩后進行可調值的泄漏測試、以確定被測 件當前狀態
■ 高速固態開關、帶故障檢測功能
■ 高精度的電流和電壓波形捕捉以及雪崩持續時間捕捉
■ 7寸24位色TF LCD電容式觸摸屏,中英文可選操作界面, 用于單機操作、輸入測試規格以及提供測試數據顯示。
■ 提供指令用于用戶將屏幕信息存儲于U盤
■ 儀器有開機自檢和在線自檢功能、為用戶排查儀器內部故 障問題
■ 配備簡單自動校準程序,用戶可現場進行校準
■ 配備多種接口:用于遠程測試控制的GPIB接口、前后面板各配備一個的高速串行接口、支持高速傳輸數據的LAN 口。 LAN口不僅可用于遠程測試控制,在用戶需要觀測即時 測試波形時,可使用 LAN口搭配上位機程序查看每一一次 的波形數據
■ 可與TH530-01 可編程電感負載箱(0.01 至159.9mH)或外部電感器配合使用
■ 可外接示波器觸發器輸出,同步可視化雪崩測試過程,用 于準確測量雪崩時間